JB4040型 β、γ表面污染檢測儀

簡介

    JB4040型 β、γ表面污染檢測儀，適用于低水平β、γ輻射表面污染檢測，同時也適用與X、γ輻射劑量率的監(jiān)測。儀器采用進口蓋革探測器，具有較高的探測效率；是環(huán)境實驗室、核醫(yī)學、分子生物學、放射化學、核原料運輸、儲存和商檢等領(lǐng)域進行α，β輻射表面污染檢測或X，γ輻射防護監(jiān)測的理想儀器，該儀器采用單片機控制，LCD液晶顯示，讀數(shù)清晰、操作方便。  

特點

◆GM探測器陣列，探測效率高

◆便攜式設計，重量輕

◆單片機控制，軟件功能強

◆LCD液晶顯示，會話式操作界面

◆計數(shù)率顯示CPM、CPS、μSv/h

◆電池失效報警

主要技術(shù)指標

◆計數(shù)范圍：1～106

◆探測器面積：25cm2

◆靈 敏 度：≥500 CPM/μSv/h

◆劑量率范圍：0.01～200.00µSv/h

◆儀器本底：每分鐘計數(shù)≤130 CPM

◆相對基本誤差：≤20%

◆供電電源：2節(jié)1.5v普通5號電池，整機電流≤50mA

◆溫度范圍：-10℃～45℃

◆濕度范圍：相對濕度≤90%（40℃）

◆尺寸重量：0.64kg；23×13×4.5（cm）